| 設置場所 | 富士（0545-35-5190） |
|---|---|
| 担当部署 | 機械電子科 |
| メーカー名 | 日立ハイテク |
| 型番等 | S-3400N/EDX |
| 機器使用料一覧上の名称 | 走査電子顕微鏡（観察） |
| 使用料（時間あたり） | 4,510円 |
| 導入年 | 2011年 |
| 主な仕様 | 観察倍率:5～300,000倍 試料ステージ：100×50mm 最大試料サイズ:200mmφ、80mm(H) （一部、制限有） 検出元素:B（ホウ素）～U（ウラン） 分析用検出器:ペルチェ素子冷却型、シリコンドリフト検出器 |
| 装置写真 |
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| 使用可否 | 可 |
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