蛍光X線分析は、X線を試料に照射することで分析領域に含まれる元素の種類や比率を分析できます。昨年度当研究所に導入された微小部蛍光X線分析装置（μ-XRF）は、微小領域の元素組成を非破壊で分析することが可能であり、生産現場における製品の不良・不具合の原因究明や環境技術等に広く活用することができます。今回の講習会では、蛍光X線分析の基礎・応用の講義と装置の見学会を実施します。

  1. 日時
    令和３年12月22日（水）13：30～16：30（受付13：00～）

  2. 会場
    静岡県工業技術研究所（静岡市葵区牧ヶ谷2078）講堂ほか

  3. 内容

    13：30～　開会挨拶
    13：40～　「蛍光X線を用いた元素分析－基礎と応用－」
    　　　　　　蛍光X線分析の基礎と応用事例・装置について解説します
    　　　　　　講　師：ブルカージャパン株式会社　水平 学 氏
    15：30～　「微小部蛍光X線装置の見学」
    　　　　　　μ-XRFの装置を用いた分析デモを見学します
    　　　　　（空き時間に、「ICP発光分光分析装置」を見学します）
    16：30　　閉会

  4. 定員
    先着2０名（聴講できない場合のみ、当方より連絡いたします）

  5. 参加費
    無料

  6. 締切り
    令和３年12月15日（水）

  7. 申込み
    申込書[DOC:19KB]に御記入のうえ、FAXまたはe-mailにてお申し込みください。

  8. 問合せ先

    静岡県工業技術研究所　化学材料科（担当　真野、菅野、稲葉）
    TEL : 054-278-3025 FAX : 054-278-3066

〇開催案内