従来のレーザー回折・散乱法に画像解析技術を加えた新しい粒度分布測定装置「Partica」を用い、粗大粒子や異形状粒子も正確に捉える測定手法を解説します。また、10月中旬～下旬に富士工業技術支援センターで「Partica」のデモ機の体験が可能となりますので御興味のある方はお申し込みください。
１ 日 時 令和８年9月30日（水）14：00～15：00
２ 会 場 富士工業技術支援センター大研修室(富士市末広20番地6）
３ 内 容 講演：次世代粒子分析装置”Partica”セミナー
～粒子径分布と形状解析を「同時」に実現する新技術について～
講師：株式会社堀場製作所
４ 定 員 40名
５ 参加費 無料
６ 詳 細 新しい粒度分布測定技術に関する技術セミナーチラシ [PDF:334KB]
７ 申 込
https://apply.e-tumo.jp/pref-shizuoka-u/offer/offerList_detail?tempSeq=21793
８ 申込締切 令和８年９月25日（金）
９ 問合せ先 富士工業技術支援センターCNF科（担当：山崎・渡邊）
電話：0545-35-5190
メール： fk-cnf@pref.shizuoka.lg.jp