表面粗さに関係する国際規格ISO21920が2021年に発行されたことに伴い、国内でも表面粗さ関係のJIS改正が進められています。過去のJIS改正時にも記号変更（最大高さRyからRzへの移行など）による解釈の混乱が生じたように、今回も図面指示やパラメータの評価基準の変化が想定されます。新規格への移行期において、取引先が今後新規格による検査へ移行することも想定されるため、これらの変化に対応していく必要があります。
本セミナーでは、新規格の具体的な変更点に加え、現在の表面粗さ測定における「フィルタ処理」などの解析上の課題と対応策を、実例とともに解説します。新規格に即応し、製品トラブルを防ぐために、ぜひ御参加ください。
１ 日 時 令和８年11月13日（金）13：15～16：00
２ 会 場 静岡県工業技術研究所 管理棟講堂（静岡市葵区牧ヶ谷2078番地）
〈アクセス方法〉https://www.iri.pref.shizuoka.jp/about/shizuoka/
３ 内 容
〇12:50-
受付開始
〇13:15-14:05
「表面粗さ測定における新規格概説 ～JIS・ISO改訂への対応～」
アメテック株式会社 テーラーホブソン事業部 西川 洋太 氏
本講演では、まず「表面粗さ測定の基本的な流れ」や「現行規格の概要」といった基礎を簡単におさらいします。その上で、2021年のISO21920発行に伴う新規格について、図面指示や評価長さ等の相違点、パラメータの新旧対比など実務に直結する重要な変更点を分かりやすく解説します。
〇14:05-14:10
休憩
〇14:10-15:00
「表面粗さ測定の盲点とその対応策」
アメテック株式会社 テーラーホブソン事業部 佐藤 達志 氏
本講演では、表面粗さ測定において見落とされやすい評価上の盲点を取り上げ、実例を交えながらその対応策を紹介します。フィルタ条件の違いによる評価値の変化、断面曲線確認の重要性、F演算（形状除去）やフィルタをかけない断面曲線の評価（Pパラメータ）に加え、Ra・Rz・Rtといった振幅では捉えきれない表面特性の評価方法について解説します。
〇15:00-15:20
「工業技術研究所における表面粗さ/形状測定の概要」
工業技術研究所 照明音響科 栁原 亘
当研究所の表面粗さ測定機（触針式及び光干渉式）、高精度自由曲面測定機の概要、及び御活用いただくための要点を実務的な観点から説明します。
〇15:20-15:30
休憩、アンケート記入、見学場所移動
〇15:30-16:00
設備見学（対象機器）：触針式表面粗さ測定機
光干渉式表面粗さ測定機
高精度自由曲面測定機（UA3P）
3Dデジタイザ
４ 定 員 50名
５ 参加料 無料
６ 申 込 ふじのくに電子申請サービスにアクセスし、お申込みください。
＜申込URL＞
https://apply.e-tumo.jp/pref-shizuoka-u/offer/offerList_detail?tempSeq=22033
＜申込二次元コード＞
※ 送付いただいた個人情報は、主催者からの連絡や情報提供・事務処理に利用します。
７ 申込締切 令和８年10月30日（金）17：00 （定員に達し次第、終了）
８ 問合せ先 静岡県工業技術研究所 照明音響科 栁原、木野
電話：054-278-3027
メール：sk-ls@pref.shizuoka.lg.jp